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통계적 공정 관리

 

zenon을 통한 품질 분석 및 통계적 평가

 

zenon을 사용하면 버튼 터치만으로 생산 품질을 통계적으로 평가할 수 있는 보고서를 작성할 수 있습니다. 통계적 공정 관리(SPC)는 생산 환경에서 품질을 측정하고 보증하는 데 주로 사용됩니다. 공정 능력, 관리도 및 히스토그램 분석을 위한 표준 SPC 보고서 외에 추가 통계 보고서를 시각화할 수 있습니다.



통계적 공정 관리 - Statistical Process...

Fact Sheet

통계적 공정 관리 - Statistical Process Control

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공정 능력 (Process Capability)

 

공정 능력 분석은 공정 잠재력(CP) 또는 공정 능력 지수(CPK) 값을 사용합니다. 예를 들면, 생산 품질이 안정적이고 생산이 정의된 한도 내에서 실행되고 있는지를 보여줍니다. 이 분석은 사전 정의된 매개 변수 내에서 연속 생산 가능여부를 확인하는 시험 생산에서 가장 자주 사용됩니다.

 

주요 내용

  • 품질 관리를 위한 통계 보고서
  • 생산 품질의 안정성 평가를 위한 SPC 보고서
  • 생산 변동사항 조기 발견
  • 품질 저하로 인한 손실 감소

관리도 (Control Chart)

 

관리도는 연속 생산에서 품질 안정성에 대한 정보를 제공합니다. 초기 단계에서 생산 품질의 변화를 감지하여 예방 조치를 취할 수 있도록 합니다. 관리도의 형식은 생산의 평균값과 표준 편차 또는 표본 크기에 의해 결정됩니다. 보고서는 평균값과 표준 편차를 추적하고 한계 또는 허용오차를 초과했는지 여부를 나타냅니다. 관리도는 품질 보증을 위한 조치 여부를 결정하는 데 사용할 수 있습니다.

 

히스토그램

히스토그램은 측정된 값이 평균값에서 벗어나는 정도와 몇 개의 측정값이 필요한 표준에서 벗어나는지를 보여줍니다. 히스토그램으로 생산 품질의 안정성을 확인할 수 있습니다.

 

기타 통계 보고서

  • 박스 플롯은 값 집합을 비교하고 값의 분포를 보여줍니다. 예를 들면 투명한 형식으로 중앙값 또는 사분위수에 대한 정보를 제공합니다.
  • 한계값을 포함한 트랜드는 한계값 초과에 대한 정보를 제공합니다. 트랜드는 시각화할 수 있습니다.
  • XY 트랜드에서는 X,Y축 각각에 변수가 맵핑됩니다. 동일한 시점에서 집계된 두 값은 모두 점으로 표기됩니다. XY 트랜드는 두 변수의 동작을 추적하여 두 방향 중 하나의 편차가 즉시 식별될 수 있도록 합니다.
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